logo သုတေသနနှင့် တီထွင်ဆန်းသစ်မှုဦးစီးဌာန

logo

သုတေသနနှင့် တီထွင်ဆန်းသစ်မှုဦးစီးဌာန

Update News
သုတေသနနှင့်တီထွင်ဆန်းသစ်မှုဦးစီးဌာန၏ ရည်မှန်းချက်များမှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်ပါသည်- (က) နိုင်ငံအကျိုးပြု သိပ္ပံနှင့်နည်းပညာဆိုင်ရာ သုတေသနနှင့် ဆန်းသစ်တီထွင်မှု လုပ်ငန်း များ ဆောင်ရွက်၍ နည်းပညာလွှဲပြောင်းခြင်းနှင့် ဖြန့်ဝေခြင်း၊ နည်းပညာအကြံပေး ခြင်းများဆောင်ရွက်ရန်၊ (ခ) သိပ္ပံ၊ နည်းပညာနှင့် ဆန်းသစ်တီထွင်မှုဆိုင်ရာ သုတေသနလုပ်ငန်းများ ဖွံ့ဖြိုး တိုးတက်ရေးအတွက် နိုင်ငံတကာ အဖွဲ့အစည်းများ၊ ဒေသတွင်းအဖွဲ့အစည်းများ၊ ပြည်တွင်း အဖွဲ့အစည်းများ၊ သုတေသနစင်တာများ၊ တက္ကသိုလ်များနှင့်စက်မှု လုပ်ငန်းများအကြားသုတေသနနှင့်ဖွံ့ဖြိုးရေး လုပ်ငန်းများ ပူးပေါင်းဆောင်ရွက်ရန်၊ (ဂ) နိုင်ငံတော်၏ ရင်းနှီးမြှပ်နှံမှုနှင့် စီးပွားရေးမှုဝါဒများကို ပံ့ပိုးပေးသော မြန်မာစံချိန် စံညွှန်းများချမှတ်ခြင်း၊ အရည်အသွေးကိုက်ညီမှု စစ်ဆေးခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ငန်းများ အကောင်အထည်ဖော် ဆောင်ရွက်ရန်၊ (ဃ) ခေတ်မီဓါတ်ခွဲစမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုလုပ်ငန်းများကို ရည်ညွှန်းဓာတ်ခွဲခန်းအနေဖြင့် မှန်ကန်တိကျစွာ ဆောင်ရွက်ရန်၊ (င) လူ့စွမ်းအားအရင်းအမြစ် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးကို အထောက်အကူပြုသော သိပ္ပံနှင့် နည်းပညာဆိုင်ရာ လက်တွေ့အသုံးချ နည်းပညာသင်တန်းများ စဉ်ဆက်မပြတ် ပို့ချ ပေးရန်၊ (စ) နိုင်ငံတော်၏ လူမှု၊ စီးပွား၊ ပညာ၊ ကျန်းမာကဏ္ဍဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအတွက် ပြည်တွင်း၊ ပြည်ပနှင့် ‌ဒေသဆိုင်ရာ အဖွဲ့အစည်းများ၊ လုပ်ငန်းရှင်များနှင့် ပူးပေါင်း၍ သတင်း အချက်အလက်နှင့် ဆက်သွယ်ရေးနည်းပညာဆိုင်ရာ သုတေသနလုပ်ငန်းများကို ဆောင်ရွက်ရန်၊ (ဆ) လူ့စွမ်းအားအရင်းအမြစ်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအဆင့်မြင့်သင်တန်းများ ဖွင့်လှစ်သင်ကြား ပေးခြင်းဖြင့် သတင်းအချက်အလက်နှင့် ဆက်သွယ်ရေးနည်းပညာဆိုင်ရာ သုတေသန လုပ်ငန်း များဖွံ့ဖြိုးတိုး တက်လာစေရန် ဆောင်ရွက်ရန်၊
MM

 

သုတေသနနှင့်တီထွင်ဆန်းသစ်မှုဦးစီးဌာနအောက်ရှိ အမျိုးသားဓာတ်ခွဲခန်းမှ ဓာတ်ခွဲဝန်ဆောင်မှု လုပ်ငန်းများ ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိရာ ပုဂ္ဂလိကကုမ္ပဏီများ၊ တက္ကသိုလ်/ကောလိပ်များနှင့် သုတေသန ဌာနများမှပေးပို့သည့် နမူနာများ၊ စက်မှုလုပ်ငန်းများ၏ သွင်းကုန်ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းများ၊ သတ္တုရိုင်း နမူနာ များ၊ ဓာတုပစ္စည်းများ၊ အစားအသောက်နှင့်အလှကုန်များစသည့် နမူနာပစ္စည်းအမျိုးမျိုးကို  တိုင်းတာလို သည့် အမျိုးအစားအလိုက် စက်ပစ္စည်းနှင့်နည်းစဉ်အမျိုးမျိုးတို့ဖြင့် ဓာတ်ခွဲခန်းအသီးသီးမှ တာဝန်ယူ ဝန်ဆောင်မှုပေးလျက်ရှိပါသည်။ ဓာတ်ခွဲစမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်းကို ပုဂ္ဂလိကကဏ္ဍ၊ တက္ကသိုလ်များ၊ ဌာနတွင်းသုတေသနလုပ်ငန်းများဟူ၍ ကဏ္ဍ(၃)ခုခွဲ၍ ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိပါသည်။ ထို့အပြင် စက်မှု ဝန်ကြီးဌာန သွင်းကုန်လိုင်စင်အတွက် ပြင်ပကုမ္ပဏီများမှ ဓာတုပစ္စည်းများအား အရည်အသွေး ဓာတ်ခွဲ စမ်းသပ်တိုင်းတာဆောင်ရွက်ရန် အမျိုးသားဓာတ်ခွဲခန်း (NAL) အား ရည်ညွှန်းဓာတ်ခွဲခန်း(Reference Lab) အဖြစ် သတ်မှတ်ထားပြီး လိုအပ်သော တိုင်းတာစမ်းသပ်မှုများ ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိပါသည်။

၁။ဓာတုပစ္စည်းနှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ  ဘေးအန္တရာယ်တားဆီးရေးဆိုင်ရာ ဓာတ်ခွဲ တိုင်းတာခြင်း

မြန်မာနိုင်ငံအမျိုးသားအဆင့် ဓာတုပစ္စည်းနှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများအန္တရာယ်မှ တားဆီးကာကွယ် ရေး ဗဟိုဦးစီးအဖွဲ့မှဆောင်ရွက်လျက်ရှိသော နိုင်ငံခြားသွင်းကုန်/ပို့ကုန် ဓာတုပစ္စည်းများနှင့် ဆက်စပ် ပစ္စည်းများကို အမျိုးအစားမှန်ကန်မှုရှိ/မရှိ စစ်ဆေးပေးခြင်း၊ အရည်အသွေးပြည့်မီမှုရှိ/မရှိ စစ်ဆေးပေး ခြင်း

ဆေးဝါး၊ လူသုံးကုန်ပစ္စည်း၊ စက်မှုလုပ်ငန်းသုံး၊ စားသောက်ကုန်ပစ္စည်း ထုတ်လုပ်ရေး လုပ်ငန်း သုံး၊ သတ္တုတူးဖေါ်ရေးလုပ်ငန်းသုံး၊ ရေသန့်စင်ရေးလုပ်ငန်းသုံး ဓာတုပစ္စည်းနှင့်ဆက်စပ် ပစ္စည်းများ တိုင်းတာ ခြင်း တို့ကို Reference Lab အဖြစ် ဆောင်ရွက်လျက်ရှိပါသည်။

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်:

တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ

တိုင်းတာမည့်စက်များ

  • ဒြပ်ပေါင်းအမျိုးအစား များခွဲခြားသတ်မှတ် ခြင်း

…oxides,…carbonate,…hydroxide,… phosphate,…sulfide,…nitride, chloride,…carbide,…silicate,…suicide,…hydrate,…nitride,…fluoride . etc

XRD

 

  • ပါဝင်သောဒြပ်စင် အမျိုး အစားသတ်မှတ်ခြင်း

 

  • ပါဝင်မှုရာခိုင်နှုန်း

    တိုင်းတာခြင်း

 

Li, B, N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, c, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dv, Ho, Er, Tm, Yb,  Lu, Th, Pa, U (Sub ppm to 100% )

XRF

AAS

ICP-OES

ICP-MS

  • ဓာတုဒြပ်ပေါင်းများ အား အမျိုးအစား  ခွဲခြားခြင်း
  • အမျိုးအမည်သတ်မှတ် ပေးခြင်း

Various types of organic compounds

FTIR-NIR

UV-Vis-NIR

  • ရေငွေ့ပါဝင်နှုန်း

တိုင်းတာခြင်း

Moisture (%)

Moisture Analyzer

Moisture Balance

 

၂။ သဘာဝသယံဇာတပစ္စည်းများ၊ဒြပ်ပစ္စည်းနှင့်သတ္တုဗေဒဆိုင်ရာပစ္စည်းများတိုင်းတာခြင်း

သတ္တုရိုင်း၊ ကျောက်အမျိုးမျိုး၊ မြေအမျိုးမျိုး၊

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ

တိုင်းတာမည့်စက်များ

  • ဒြပ်ပေါင်းအမျိုးအစား များခွဲခြားသတ်မှတ် ခြင်း

 

Quartz (SiO2), Calcite (CaCO3), Albite (NaAlSi3O8), Kaolinite (Al2Si2O5(OH)4),  Corumdum (Al2O3), Brownmillerite (CaFeAlO5),  Gismondine (CaAl2Si2O8), Chalcocite (Cu2S),  Stromeyerite (AgCuS), Beryl (Be3Al2Si6O18), Hematite(Fe2O3)-etc.,

XRD

  • ပုံဆောင်ခဲအမျိုးအစား

   များရှာဖွေခြင်း

Cubic,  Tetragonal, Orthorhombic, Hexagonal,Trigonal, Triclinic, Monoclinic

XRD

 

 

 

 

၃။ ဒြပ်ပစ္စည်းနှင့်သတ္တုဗေဒဆိုင်ရာပစ္စည်းများတိုင်းတာခြင်း

            သတ္ထုရိုင်း၊ သတ္ထုစပ်၊ ရေနံနှင့်ရေနံထွက်ပစ္စည်း၊ လောင်စာဆီအမျိုးမျိုး၊ ဇီဝလောင်စာ၊ ရုပ်ကြွင်း လောင်စာ၊ ချောဆီ၊ သုတ်ဆေး၊ အရောင်တင်ဆီ

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ

တိုင်းတာမည့်စက်များ

  • လေထုတွင် အလိုအလျောက် လောင်ကျွမ်းနိုင်မှု အပူချိန်တိုင်းတာခြင်း

Flash point

Flash point tester

  • သိပ်သည်းဆတိုင်းတာခြင်း

Density

Density meter

  • ပါဝင်သော ဒြပ်စင်အမျိုးအစား သတ်မှတ်ခြင်း
  • ပါဝင်မှု ppm level အထိ ရှာဖွေပေးခြင်း

Carbon, Sulphur

 

Oxygen, Nitrogen, Hydrogen

C/S Analyzer

 

O / N/ H Analyzer

 

၄။ ပတ်ဝန်းကျင်ထိန်းသိမ်းကာကွယ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း စွန့်ပစ်ညစ်ညမ်းမြေအမျိုးမျိုး၊ စွန့်ပစ်ပစ္စည်းများ၊ လေထုညစ်ညမ်းမှုဆိုင်ရာပစ္စည်းများ၊ ဇီဝနမူနာ များ၊ သတ္တဝါများ၏အစိတ်အပိုင်း၊ သွေးဆဲလ်၊ အပင်ဆဲလ်၊ စိုက်ပျိုးမြေအမျိုးမျိုး

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ

တိုင်းတာမည့် စက်များ

  • ကျန်းမာရေးထိခိုက်သော အန္တရာယ်ဖြစ်စေသည့် ဓာတု ဒြပ်စင်များ ပါဝင်မှု ရှိ/မရှိ တိုင်းတာခြင်း
  • ပါဝင်မှုပမာဏတိုင်းတာခြင်း

Li, B, N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, c,Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, , Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U

XRF

AAS

 ICP-OES

ICP-MS

  • လေစုပ်ထားသောအလွှာပါး

ပေါ်ရှိပါဝင်သော

ဒြပ်စင်များ၏ပမာဏများ တိုင်းတာခြင်း

N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, c,Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U

XRF

SEM

 

 

၅။ ပတ်ဝန်းကျင်ထိန်းသိမ်းကာကွယ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း

 

 

 

၆။ သောက်သုံးရေ၊ စွန့်ပစ်ရေနှင့် ညစ်ညမ်းရေဓာတ်ခွဲတိုင်းတာခြင်း

သောက်သုံးရေ၊ စွန့်ပစ်ရေ၊ ညစ်ညမ်းရေ၊ ရေအမျိုးမျိုး၊ မြေအောက်တွင်းရေ၊ မြစ်ရေ၊ ချောင်းရေ၊ ကန်ရေ၊

ဆည်ရေနှင့် စွန့်ပစ်ရေများ

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော        Parameters များ

တိုင်းတာမည့်စက်များ

  • အန္တရာယ်ဖြစ်စေသော ဘက်တီးရီးယားပိုးများ စစ်ဆေးခြင်း

Water Borne Bacteria

AFM,         

Biological Microscope

  • ရေအမျိုးမျိုးတွင်ပါဝင် သောဒြပ်စင် များ၏ ပမာဏကိုတိုင်းတာ ပေးခြင်း

As,Al,Ag,Au,B,Cd,Cr,Cu,Fe,Se,K, Na, Mg,Mn,Mo,Co, Ni,Pb,Li,Zn

AAS,                          ICP-OES,     ICP-MS

  • ကြွင်းကျန်ရှိနေသောပိုးသတ်ဆေးဒြပ်ပေါင်းများ အမျိုးအစားခွဲခြားခြင်း
  • အမျိုးအမည် သတ်မှတ်ပေးခြင်း
  • ပါဝင်မှုပမာဏတိုင်းတာပေးခြင်း

Carbamate Pesticides, α- BHC, β- BHC, γ- BHC, Aldrin, Diedrin,    Endrin,  Endosulfan, o,p’DDT, p,p’DDT,DDD, DDE,Heptachlor

HPLC-UV

HPLC-MS

GC –MS

 GC-MS (headspace)

  • အဆိပ်အတောက်ဖြစ်စေ သောအော်ဂဲနစ်ဒြပ်ပေါင်း များတိုင်းတာပေးခြင်း

Benzene,Toluene,  Xylene, MTBE

Ethylbenzene,  Chlorobenzene, Dichloroethane , Chloroform, Tetrachloroethane, Stryene

GC – MS

 GC-MS ( headspace)

  • ရေအမျိုးမျိုးတို့၏ဓာတ် ဂုဏ်သတ္တိတိုင်းတာခြင်း

COD, pH, Phosphate, Nitrate, Conductivity, Total Dissolved Solids, Total Hardness, Dissolved Oxygen, Acidity (total acid), Chloride, Fluoride,

UV-Vis-NIR            Ion Chromatography COD Photometer Moisture Analyzer, pH Meter, DO Meter, Alcohol Meter, Phosphate Meter, Nitrate Meter

 

၇။ စားသောက်ကုန်ပစ္စည်းများတိုင်းတာခြင်း အစားအစာ၊ စားသောက်ကုန်ပစ္စည်းများနှင့် ၎င်းတို့၏ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၊ရောင်ချယ်နှင့် အဆီပါဝင်မှု နည်းပါးသော စားသီးနှံများနှင့်အသီးအရွက်များ၊ အပူလွန်ကဲ၍ကာဗွန်ဒြပ်ပေါင်းများ တင်ကျန်ရစ်သော အစားအစာများ

 

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ

တိုင်းတာမည့်စက်များ

  • ဥပါဒ်ဖြစ်စေသော ဘက်တီးရီးယား

များစစ်ဆေးခြင်း

Food Borne Bacteria

AFM, Biological Microscope

  • ၎င်းတို့တွင်ပါဝင်သော ဒြပ်စင်များ၏ ပမာဏကိုတိုင်းတာပေးခြင်း

As,Al,Ag,Au,B,Cd,Cr,Cu,Fe,Se,K,Na,Mg,Mn,Mo,Co,Ni,Pb,Li, Zn

AAS,ICP-OES, ICP-MS

  • ရေငွေ့ပါဝင်နှုန်းတိုင်းတည်ခြင်း

Moisture (%)

Moisture Analyzer

  • ကြွင်းကျန်ရှိနေသောပိုးသတ်ဆေး ဒြပ်ပေါင်း များအမျိုး အစားခွဲခြားခြင်း အမျိုးအမည်သတ်မှတ်ပေးခြင်း ပါဝင်မှုပမာဏ တိုင်းတာပေးခြင်း

α- BHC, β- BHC, γ- BHC, Aldrin, Diedrin, Endrin,  Endosulfan, o,p’DDT,p, p’DDT, DDD, DDE,Heptachlor

 

GC- MS

FTIR-NIR

 

 

  • ကင်ဆာဖြစ်စေနိုင်သောpolyaromatic hydrocarbon

(PAH)ဒြပ်ပေါင်းများတိုင်းတာ ပေးခြင်း

Chrysene, Perylene

  • ကျန်းမာရေးထိခိုက်သော အန္တရာယ် ဖြစ်စေသောဓာတုဒြပ်ပေါင်းများ

Caffeine, Non volatile organic compounds such as mycotoxins, additive, preservatives, vitamins,  fatty acids, etc.,

HPLC-UV/MS

FTIR-NIR

UV-Vis-NIR

 

 

၈။ ဆေးဝါးနှင့် အလှကုန်ပစ္စည်းများဓာတ်ခွဲတိုင်းတာခြင်း

ဆေးဝါး၊ အလှကုန်နှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၊ ဆေးဘက်ဝင်သဘာဝအပင်များနှင့် အသီးအနှံများ၏အဆီများ

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော

parameterများ

တိုင်းတာမည့် စက်များ

  • ဥပါဒ်ဖြစ်စေသော ဘက်တီးရီးယား စစ်ဆေးခြင်း

Allergic Bacteria

AFM, Biological Microscope

  • ၎င်းတို့တွင် ပါဝင်သောဒြပ်စင်များကို တိုင်းတာပေးခြင်း

As,Al,Ag,Au,B,Cd,Cr,Cu,Fe,Se,K, Na,Mg,Mn,Mo,Co,Ni,Pb,Li,Zn

AAS, ICP-OES,

ICP-MS

  • အော်ဂဲနစ် ဒြပ်ပေါင်းများ ပါဝင်မှု ရှိ/မရှိ တိုင်းတာခြင်း

Various types of organic compounds

FTIR-NIR

  • ဓာတုဒြပ်ပေါင်းများ၏ရုပ်ဂုဏ်သတ္တိ တိုင်းတာခြင်း၊ အခဲပျော်မှတ်ကြောင့် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု တိုင်းတာခြင်း

Melting Points, Heats of Reaction, Glass Transition, and Heat Capacity.

DSC

STA

  • အလှကုန်များအတွက် အမွှေးအနံ့ဆီ များ၊ အားဖြည့်ဒြပ်ပေါင်းများကို အမျိုးအစားသတ်မှတ်ပေးခြင်း ပါဝင်မှုပမာဏတိုင်းတာပေးခြင်း

Fatty acid, Omiga - 3, EPA, DHA

GC-MS

 

၉။ စက်ရုံများ၊ အဆောက်အဦနှင့် လုပ်ငန်းသုံးပစ္စည်းများအား မူရင်းမပျက်တိုင်းတာစစ်ဆေးခြင်း ဂဟေသားအဆက်များ၊ စက်ပစ္စည်းကိုယ်ထည်များ၊ မီးဖိုကိုယ်ထည်များ၊ ဖိအားမြင့် လှောင်အိုး များ၊ ရေနံနှင့်သဘာဝ ဓာတ်ငွေ့ပိုက်လိုင်းအဆက်များ၊ ယာဉ်၊ ရထား၊ သေင်္ဘာ၊ လေယာဉ်ပျံများ၏ အစိတ် အပိုင်းများ၊ လေယာဉ်ပျံတောင်ပံ၊ သေင်္ဘာကိုယ်ထည်နှင့်ပန်ကာများ၊ ကွန်ပိုစစ်၊ ကာဗွန်ဖိုင်ဘာ၊ ဂလပ်(စ်)ဖိုင်ဘာပစ္စည်းများ၊ ပိုက်လိုင်းများ၊ပြွန်များ၊ ထုတ်ကုန်ပစ္စည်း အသစ်များ၊ အဆောက်အဦများ

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော

parameter များ

တိုင်းတာမည့် စက်များ

  • အပြစ်အနာအဆာများအား သတ်မှတ်ချက် စံချိန်စံညွှန်းနှင့် တိုက်ဆိုင်စစ်ဆေးပြီး ဘေးအန္တရာယ် ကင်းရှင်း စွာ အသုံးပြု နိုင်ခြင်း ရှိ/မရှိ တိုင်းတာခြင်း

-Cracks

-Lack of Fusion

-Porosities

-Slack/Oxide/

Tungsten Inclusion

-Lack of Penetration

-Internal or Root Undercut

-External or Crown Undercut

-Offset or Missmatch

-Excess Weld Reinforcement

-Root Concavity

-Shrinkage Groove

-Laminations

-SENTRY 300

 (Co-60 Gamma    

  Projector) (RT)

-SENTRY 880

 (Ir -192 Gamma 

 Projector)(RT)

-SMART 300 HP

 X ray Generator (RT)

-CP 160B Portable

 X ray Generator (RT)

-HDCR 35

 IP Scanner (RT)

-ISONIC PA AUT (UT)

-Scorpion (UT Lite)(UT)

-Lizard M8 (ET)

-Riezler MSE 500

-IRIS DVR-5(Visual)

-PARKER DA 1500 (MT)

၁၀။စက်ရုံများ၊ အဆောက်အဦနှင့် လုပ်ငန်းသုံးပစ္စည်းများအား မူရင်းမပျက်တိုင်းတာစစ်ဆေးခြင်း

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော

parameter များ

တိုင်းတာမည့် စက်များ

  • အပြစ်အနာအဆာများ ရှိ/မရှိကို တိုင်းတာစစ်ဆေးခြင်း

 -Surface and Sub Surface Defects

-Defectoscope EV (ET)

  • အပြစ်အနာအဆာများ ရှိ/မရှိကို တိုင်းတာ စစ်ဆေးခြင်း

 

Surface deformations from the internal flaws

• Delamination

• Debonding

• Separation of structural

 components

• Undulation/waving/

  wrinkling

• Kissing bonding

• Impact Damage ( BVID )

• Structural anomaly

• Inter- laminar separations

• Crushed Core,

  differentiates between

  disbonds

• Internal corrosion

• Changes in section and   core splices / bulkheads

DANTEC Q810 Laser Shearography System

  • ပိုက်လိုင်း အတွင်း၊အပြင်ရှိ အပြစ် အနာ အဆာများကို တိုင်းတာ စစ်ဆေး ခြင်း

-Conductivity of Materials

-Automatic Sizing of Internal Pits In Heat Exchanger Tubing

Ect 48 Micro Dock (ET)

  • ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းအသစ်များ၏ အရည်အသွေး သုတေသနပြု လုပ် ခြင်း
  • အ‌ဆောက်အဦ၊ အပူကာနံရံ များ၏ အပူပျံ့နှံ့မှု အခြေအနေနှင့် အရည် အသွေး စမ်းသပ်ခြင်း
  •  ဓါတ်ငွေ့ယိုစိမ့်မှု စစ်ဆေးခြင်း
  •  နံရံနှင့်အမိုး များ၏ ရေငွေ့ စိမ့်ဝင်မှု စမ်းသပ် စစ်ဆေးခြင်း

-Temperature Variation

(Range -20 °C to +650 °C)

Fluke Ti200 Thermal Camera

 

 

 

 

 

၁၁။ဆောက်လုပ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း ဘိလပ်မြေ၊ ထုံးကျောက်၊ သံချောင်း၊ စတီးပစ္စည်းများ၊ အလူမီနီယံ၊ သွပ်၊ ကွန်ကရိ၊ ကြွေထည် ြေမထည် ပစ္စည်:များ၊ သတ္တုနှင့်သတ္တုစပ်ပစ္စည်းများ၊ သံချောင်း၊ စတီးပစ္စည်းများ၊ အလူမီနီယံ၊သွပ်၊ သတ္တုနှင့် သတ္တုစပ်များ၊ ဝါယာ၊ ရာဘာ၊ ကွန်ပို့စစ်၊ ပေါ်လီမာနှင့်ပလပ်စတစ် ပစ္စည်းအမျိုးမျိုး၊ အဆာက်အဦသုံး မှန်နှင့် ပလပ်စတစ်ပစ္စည်းအမျိုးမျိုး

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော

parameter များ

တိုင်းတာမည့် စက်များ

  • ပါဝင်သောဒြပ်ပေါင်း များခွဲခြားခြင်း

Calcium oxide (lime)( Ca0),

Silicon dioxide (silica)(SiO2),

Aluminum oxide (alumina)(Al2O3), Iron oxide (Fe2O3), Sulfate(SO3),

Tricalcium aluminate (Ca3Al2O6),

Tetracalcium aluminoferrite (Ca4Al2Fe2O10),

Belite or dicalcium silicate (Ca2SiO5 ),

Alite or tricalcium silicate (Ca3SiO4),

Sodium oxide (Na2O),

Potassium oxide(K2O),

Gypsum(CaSO4.2H2O)

XRD

  • ပါဝင်သော ဒြပ်စင်များ ခွဲခြားခြင်း

C,O, H, N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U

XRF

Arc-Spark OES,

C/S Analyzer O/N/H Analyzer

 

၁၂။ ဆောက်လုပ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော

parameter များ

တိုင်းတာမည့် စက်များ

  • သန့်စင်မှုရာခိုင်နှုန်းအား တွက်ချက် ခြင်း

Sub ppm to 100%

XRF, Arc-Spark OES, C/S Analyzer,

O/N/H Analyzer

  • ရုပ်ဂုဏ်သတ္တိတိုင်းတာခြင်း၊ အခဲ ပျော်မှတ်ကြောင့် အပူချိန်ပြောင်း လဲမှု တိုင်းတာခြင်း

Melting Points, Heats of Reaction, Glass Transition, and Heat Capacity.

DSC

STA

 

  • ဒြပ်ပေါင်းအမျိုးအစား သတ်မှတ် ခြင်းနှင့် UVအလင်းစုပ်ယူမှု တိုင်း တာခြင်း

Type of Polymer, UV, Vis Absorbance (%)

FTIR-NIR

UV-Vis-NIR

 

  • မျက်နှာပြင်အဏုစိတ် ပုံဖော်ခြင်း၊ ပါဝင်သောဒြပ်စင်များ ခွဲခြားခြင်း

Surface morphology

Topography

Elemental Analysis

SEM

 

 

၁၃။ အီလက်ထရောနစ်ပစ္စည်းများ အရည်အသွေးတိုင်းတာခြင်း

တပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း၊ဖန်ထည်၊ဆိုလာဆဲလ်၊ဆီလီကွန်ဝေဖာ၊ကွန်ပျူတာအစိတ်အပိုင်းများ၊စီဒီ၊အိုင်စီ

အီလက်ထ‌ရောနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၊ တပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းများ

-Printed circuit boards -Electronic and mechanical-modules

-Electromechanical-components and plugs-Semiconductor packaging and interconnects

–Microsystems

 -Sensors-Actuators

 

စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း

တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ

တိုင်းတာမည့်စက်များ

  • မျက်နှာပြင်ကိုအဏုစိပ်ပုံဖော်ခြင်း၊ အလွှာပါးတင်ခြင်း၊ ဖြတ်တောက်ခြင်းနှင့်စက်ခုတ်စားမှု၊
  • ဒြပ်စင်များပါဝင်မှုတိုင်းတာခြင်း

Surface morphology

Topography

Deposition and etching

Milling

Failure Analysis

Elemental Analysis

FE-SEM

  • မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု စစ်ဆေး ခြင်း နှင့် သုံးဖက်မြင်ပုံထုတ်ခြင်း
  • အပြစ်အနာအဆာ ကြည့်ခြင်း
  • သိုလောင်နိုင်မှုပမာဏကြည့်ရှုခြင်း

Optical

Scanning

Line profile

3D imaging

AFM

  • အတွင်းပိုင်းကို မူရင်းမပျက်အလွှာ လိုက် ပုံစံများဖြင့် ကြည့်ရှုနိုင်ပြီး၊
  • အပြစ်အနာအဆာများကိုတိုင်းတာ စစ်ဆေးခြင်း။

Typical defects during bonding or chipped wires, excess wires, missing wires and ball bonds

X ray CT

(YXLON,Y.Cougar SMT)

 

၁၄။ နာနိုနည်းပညာဆိုင်ရာ ဓာတ်ခွဲတိုင်းတာခြင်း

နာနိုအမှုန်အမျိုးမျိုး၊ နာနိုဒြပ်ပစ္စည်းများ၊ နာနို structure များ၊  နာနို thin film များ၊ နာနိုကျု့များ

NAL Test request form (Word)

NAL Test Request Form (pdf)